在上一篇文章中，我们重点讨论了金属化薄膜电容器的两种不同的自愈机制之一：放电自愈，也称为高压自愈。在本文中，我们将了解另一种类型的自愈，即电化学自愈，也通常称为低压自愈。

电化学自愈

这种自愈通常发生在低电压下的铝金属化薄膜电容器中。这种自愈的机理是这样的：如果金属化薄膜电容器的介质膜存在缺陷，在电容器上加电压后（即使电压很低），也会出现较大的漏电。有电流通过缺陷，表现为电容器的绝缘电阻远低于技术条件规定的值。显然，漏电流中存在离子电流，也可能存在电子电流。由于各种有机薄膜都有一定的吸水率（0.01%~0.4%），且电容器在制造、储存和使用过程中可能会受潮，因此离子电流的很大一部分将是O2-和H-离子水被电解而产生的电流。O2-离子到达AL金属化阳极后，与AL结合形成AL2O3，随着时间的推移逐渐形成AL2O3绝缘层，覆盖和隔离缺陷，从而增加电容器的绝缘电阻，实现自愈。

显然，金属化有机薄膜电容器需要一定的能量才能完成自愈。能量来源有两种，一种来自电源，另一种来自缺陷断面金属的氧化、氮化放热反应，自愈所需的能量通常称为自愈能量。

 
自愈是金属化薄膜电容器最重要的特性，它带来的好处也很大。但也存在一些缺点，例如所用电容器的容量逐渐减小。如果电容器大量自愈工作，会导致其容量和绝缘电阻显着下降，损耗角显着增大，电容器迅速失效。

如果您对金属化薄膜电容器自愈特性的其他方面有深入的了解，请与我们讨论。